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QPHY-PCIe

Teledyne LeCroy QPHY-PCIe テスト ソリューションは、Teledyne LeCroy オシロスコープの自動制御を提供し、Card Electro-mechanical 仕様 Rev 1.1 および 2.0 で説明されているトランスミッタ物理層テスト全体を実行します。

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主な機能
  • Card Electro-mechanical Specification Rev 1.1 および 2.0 に準拠
  • システムおよびアドイン カードのテストのサポート
  • オシロスコープ ソフトウェアに統合された SigTest ライブラリにより、コンプライアンス テストに使用されるアルゴリズムを正確に自動化できます。
  • 接続図は、PCI-SIG コンプライアンス ベース ボードとコンプライアンス ロード ボードを使用した適切なセットアップを示しています。
  • レポート生成には、2.5Gb/s、5.0dB のディエンファシスを伴う 3.5Gb/s、および 5.0dB のディエンファシスを伴う 6.0Gb/s の CEM テスト アサーションが組み込まれています。
  • シンプルで使いやすい自動テスト

Teledyne LeCroy QPHY-PCIe テスト ソリューションは、Teledyne LeCroy オシロスコープの自動制御を提供し、Card Electro-mechanical 仕様 Rev 1.1 および 2.0 で説明されているトランスミッタ物理層テスト全体を実行します。

システム ボードとアドイン カードの両方のテスト要件は仕様で規定されています。QPHY-PCIe には、システム ボードとアドイン カードの両方の仕様に従ってコンプライアンスをテストする機能があります。

品質 PCIe

SigTest ライブラリをオシロスコープ ソフトウェアに統合することにより、QPHY-PCIe は、仕様で説明されているものとまったく同じアルゴリズムを使用して、必要なすべてのコンプライアンス テストを完全に自動化できます。

さらに、QPHY-PCIe はすべての 2.5GT/s テストを実行し、次にすべての 5.0GT/s で 3.5dB のディエンファシス テストを実行し、最後にすべての 5.0Gt/s ですべての 6.0dB のディエンファシス テストを実行できます。 . これにより、ユーザーは 3 つのテスト フェーズすべてに対して XNUMX つのテスト レポートを作成できます。

これらの機能により、QPHY-PCIe は 2.5GT/s および 5.0GT/s PCI Express トランスミッター コンプライアンス テストの要件を満たす包括的な自動テスト スイートになります。

品質 PCIe
統合された SigTest ライブラリ

SigTest ライブラリをオシロスコープ ソフトウェアに統合することで、PCI-SIG が提供するアルゴリズムがそのまま結果の計算に使用されます。これにより、スタンドアロンの SigTest ユーティリティを実行した場合とまったく同じ結果が得られるだけでなく、オシロスコープ ソフトウェア内からこのユーティリティを実行できるという利点も得られます。

品質 PCIe
包括的で読みやすいテストレポート

仕様を迅速に検証するために、測定結果を要約して表にする必要があることがよくあります。 この情報は、機器および信号取得/テスト条件のセットアップとともに、完全に文書化された記録になります。 QPHY-PCIe は、自動 HTML レポート生成エンジンを組み込むことで、このプロセスを簡素化します。 作成されたテスト レポートには、合否や仕様限界列など、個々のテスト結果の数値が表形式で表示されます。 レポートは、PDF、HTML、または XML として保存することもできます。

高度なデバッグ機能

コンプライアンス違反が見つかった場合、Teledyne LeCroy の SDA II シリアル データ解析パッケージを利用して、根本原因を迅速かつ簡単に見つけることができます。 SDA II には、アイとジッタの測定を同時に実行する機能があり、オシロスコープ アプリケーション ソフトウェアに完全に統合されています。 さらに、IsoBER、ISI Plot、Pj Inverse FFT、複数のジッタ モデルなどの特殊な機能を備えた SDA II は、測定された Eye および Jitter パラメータに関する洞察を提供し、問題の原因の特定を容易にします。

品質 PCIe

この Eye Doctor II 分析ソフトウェアを使用すると、連続時間線形イコライゼーション (CTLE)、フィードフォワードイコライゼーション (FFE)、および/または決定フィードバックイコライゼーション (DFE) 後の信号を表示できます。これにより、イコライゼーションを使用する実際の受信機が信号をどのように解釈するかを確認できます。

品質 PCIe

Teledyne LeCroy の SDA II 解析ソフトウェアには、クロックおよびデータ信号用の統合ジッタおよびタイミング解析機能が含まれています。オシロスコープのメモリ制限までのデータの解析が可能で、X-Stream II テクノロジを使用することで、SDA II は他のソリューションよりも最大 50 倍高速にアイ ダイアグラムとジッタ分解結果を表示できます。さらに、PCI Express 用の特定の PLL は、事前構成された PLL のリストから選択できます。最後に、SDA II には、業界標準のスペクトル法と NQ スケール法という 2 つの異なるジッタ分解方法が含まれています。NQ スケールは、クロストークが存在するシステムでランダム ジッタと確定的ジッタを適切に区別するために重要です。

品質 PCIe

また、 Eye Doctor II 分析ソフトウェアでは、チャネル エミュレーションも実行できます。PCIe テストの場合、設計エンジニアは送信機の出力でシリアル データ測定を実行します。ただし、リファレンス シリアル データ チャネルの反対側での分析は、問題のデバッグに非常に役立ちます。これを実現するには、物理​​チャネルを使用してチャネルの後で測定を実行するか、チャネル エミュレーションを使用して、シリアル データ信号がチャネルを介して送信された場合にどのように見えるかを確認します。

 

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QPHY-PCIe テスト範囲

2.5 GT/s 信号品質テスト 平均単位間隔
最大単位間隔
最小単位間隔
クロスオーバー間の最小時間
データレート
エッジごとの RMS ジッター
平均中央値からピーク ジッターまで
最大中央値からピーク ジッターへ
最小中央値からピーク ジッターへ
平均ピークツーピークジッター
最大ピーク間ジッター
最小ピーク間ジッター
最小遷移 (非遷移) アイ電圧
最大遷移 (非遷移) アイ電圧
最小遷移 (非遷移) アイ電圧 マージン 上部 アイ
最大遷移 (非遷移) アイ電圧マージン アイ下
5.0 GT/s 信号品質テスト 平均単位間隔
クロスオーバー間の最小時間
データレート
最大ピーク間ジッター
10e-12 の BER での総ジッター
デターミニスティック ジッタ デルタ - デルタ
ランダムジッタ (RMS)
最小遷移 (非遷移) アイ電圧
最大遷移 (非遷移) アイ電圧
最小遷移 (非遷移) アイ電圧 マージン 上部 アイ
最小遷移 (非遷移) アイ電圧マージン アイ下
マスク違反 遷移 (非遷移) アイ
 
推奨オシロスコープ (5.0 GT/s テスト用)
13 ~ 16 GHz、40 GS/s、4 チャンネル、20 Mpts/Ch シリアル データ アナライザ、15.3 インチ WXGA カラー ディスプレイ、50 Ω および 1 MΩ 入力*WaveMaster 813Zi、816Zi
20、25、30 GHz、80 GS/s、2 チャネル、40 Mpts/Ch シリアル データ アナライザ、15.3 インチ WXGA カラー ディスプレイ付き。50 Ω および 1 MΩ 入力 (16 GHz、40 GS/s、4 チャネル、20 Mpts/Ch)*WaveMaster 820Zi、825Zi、830Zi (SDA および DDA 8 Zi オシロスコープもサポート)
 
推奨オシロスコープ (2.5 GT/s テスト用)
6 GHz、 20 GS/s、4ch、10 Mpts/Ch (40 GS/s および 20 Mpts/Ch (インターリーブモード)、50 Ω および 1 MΩ 入力*WavePro 760Zi (SDA および DDA 7 Zi オシロスコープもサポートされています)
 
Teledyne LeCroy から入手できない必要な機器
PCI-SIG 準拠ベース ボード (5.0GT/s アドイン カード テスト用のみ) CBB2
PCI-SIG コンプライアンス ロード ボード (5.0GT/s x4 または x 8 レーン システム テスト専用)  x4/x8CLB2
PCI-SIG コンプライアンス ロード ボード (5.0GT/s x1 または x 16 レーン システム テスト専用) x1/x16CLB2
PCI-SIG コンプライアンス ベース ボード (2.5GT/s アドイン カード テスト専用) CBB1  
PCI-SIG コンプライアンス ロード ボード (2.5GT/s システム テスト専用)CLB1
CBB または CLB 上の未使用の SMA コネクタごとに SMA または SMP ターミネータ