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DDRデバッグ・ツールキット

DDR デバッグ ツールキットは、ユーザーがコンプライアンス テストの準備をする際の、初期のターンオン、検証、コンプライアンス前の段階で DDR 設計作業を加速するように設計されています。 MAUI スコープ アプリに統合されているため、ユーザーは複数の分析領域を含むケースバイケースのシナリオを構築し、コマンド バスでデコードとトリガを実行し、JEDEC 固有のアイ ダイアグラム、マスク テスト、DDR 固有の測定を使用して設計段階の最適化に取り組むことができます。

DDRデバッグ・ツールキットの詳細 下矢印
商品タイトル画像
  • 製品ラインタブ
  • 「概要」タブ
  • 互換性タブ
主な機能
  • DDR2/をサポート3/4/5 および LPDDR2/3/4/4倍/5/5倍
  • 最大 8533 MT/s のテスト速度
  • 設計のコンプライアンス段階を通じて早期の電源投入をサポート
  • MAUI に統合され、QualiPHY によって障害分析に使用されます
  • 複数のシナリオの表示 – 最大 4 つの表示領域でさまざまな設定を分析および比較します。
  • DDR JEDEC 定義の測定とジッター解析を含む
  • DDR JEDEC 定義のアイ ダイアグラムとマスク テストを含む
  • 業界唯一のコマンド バスのデコードと最大 DDR5 のトリガ

 

DDR トリガーとデコード
ddrトリガーコマンド

コマンド バスは、ホストと DDR DRAM 通信の中心部分です。 早期の検証テストを実行することは、電気的な検証だけではなく、プロトコルも意味します。 オシロスコープは、JEDEC 規格で指定されているコマンド真理値表から 20 以上のプロトコル コマンドをデコードしてトリガーできます。 次に、デコードされたコマンド バスを使用して、高精度の R/W 分離機能によりアイおよび測定分析ステージを高速化します。

複数シナリオの表示
ddr 複数シナリオ ビュー

4 つの独自の分析表示領域を使用して、事前準拠テストと微調整段階を加速します。 これらの表示領域はそれぞれ、独自のチャネル選択を表し、書き込みまたは読み取りに特化し、DDR 測定、アイ ダイアグラム、マスク テストなどを行うことができます。 エンジニアがデータ、ストローブ、またはクロックのテスト ポイントをテストし、クロストークを分析し、新しい設計を比較し、設計上の問題と根本原因をデバッグできるようにします。

JEDEC 定義のアイ ダイアグラム、マスク テスト
ddr アイ ダイアグラム テスト

特定のアイ ダイアグラム テスト、特に DDR 読み取りまたは書き込みパケットの高さと幅の開口部の測定を実行します。 次に、JEDEC 定義のマスクを使用して、データまたは CA 書き込みバーストをテストします。

DDR 固有の計測パラメータ
DDR測定

各表示領域は、双方向取得でキャプチャされた DDR 固有の読み取りまたは書き込み信号の統計結果を提供できます。 JEDEC 規格に準拠して、バースト、Vref、VOH、VOL、セットアップとホールド、スキュー、スルー レート、さまざまなジッターおよびタイミング固有の測定を行います。