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EMC

電磁 (EM) 放電に対する電子設計の感受性を理解することは、検証の重要な要素です。 回限りの高速イベント トランジェントであろうと反復バーストであろうと、EM は回路性能に予期しないイベントをもたらす可能性があります。 テレダイン・レクロイのオシロスコープは、このタスクに特化した高いサンプルレートと測定を提供します。 つのパルスであれ、何十億回もの測定エンジニアであれ、デバイスやシステムの感受性に関する洞察を得ることができます。

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主な機能
  • 高速で正確な EMC パルス検証
  • カスタマイズ可能なライズ、フォール、および幅パラメーター
  • 最大 2 億のイベントのヒストグラム

静電気放電(ESD)
ESD 発生器で作成されたパルス形状を正確に特徴付けるには、高いサンプル レートと帯域幅が重要です。 ソフトウェア パッケージは、必要な立ち上がり時間、立ち下がり時間、および幅の測定をカスタマイズして、発生器が業界標準を満たしていることを確認できる、調整可能なレベルを持つ特殊なパラメーターを提供します。 組み込みの統計とヒスチコンにより、多数の測定値を一目ですばやく表示できます。

電気的高速過渡現象 (EFT)
EFT パルスの高速な立ち上がり時間と EFT バーストの繰り返しレートにより、波形を正確にキャプチャするには、高いサンプル レートと長いメモリを備えたオシロスコープが必要です。 X-Stream デジタル オシロスコープで利用可能なロング メモリと、シーケンス アクイジション モードにより、短時間で多くの EFT バーストをキャプチャできます。 専用の立ち上がり、立ち下がり、および幅のパルス パラメータがソフトウェア パッケージに追加され、統計およびヒスチコンと組み合わされて、すべてのバーストでの高速パルス測定が可能になります。 X-Stream デジタル オシロスコープの内蔵ズーム機能により、仕様から外れている可能性のあるパルスをすばやく見つけて表示できます。

サージ
サージ波形を検証するには、非常に遅い繰り返し率で発生するパルスをキャプチャするために長いメモリが必要です。 X-Stream デジタル オシロスコープは、長いメモリを内蔵しており、これらのパルスを適切なサンプリング レートでキャプチャできます。 パラメータを統計とヒスチコンと組み合わせて使用​​することで、多くの取得でサージ発生器のパルス形状をすばやく簡単に特徴付けることができます。

パルスパラメータ

特殊自動測定パラメータ
ソフトウェア パッケージは、特定の EMC/ESD 規格に従って立ち上がり時間、立ち下がり時間、または幅の特性を測定するためのカスタマイズ可能なパラメーターを提供します。 アンダーシュート、オーバーシュート、またはテール摂動を無視するようにレベルを選択できるため、時間のかかるカーソルを手動で使用する必要なく、反復パルス シーケンスをすばやく簡単にキャプチャして検証できます。 最大 8 つのパラメータ WavePro®または WaveMaster®/SDA は一度に定義できます。

測定フィルタリング
パルスパケット内のすべてのパルスを測定することが常に望ましいとは限りません。 または、パルス テールに過剰なパルス状の摂動が存在する可能性があります。 この場合、取得で特定の数のパルスのみを測定するか、過剰なテール摂動の影響を除外して最初のパルス上昇のみを測定することができます。

トランジェント
最大 10 秒間隔の過渡パルス形状を表示および検証するには、長いキャプチャ時間が必要です。 X-Stream デジタル オシロスコープの長いメモリにより、これらのトランジェント パルスを確認して表示するために必要なサンプル レートとキャプチャ時間が保証されます。

電圧ディップと割り込み
電圧ディップと割り込みの基準を満たすためにデバイスをテストするには、電圧ディップ中にデバイスを監視する必要があります。 X-Stream デジタル オシロスコープは、必要な測定パラメータへの簡単なアクセスや、波形をすばやく保存して注釈を付ける機能など、デバイスを監視するために必要なすべてのツールを提供します。

EMC パルス パラメータ ソフトウェア パッケージ
このパッケージには、強化された Rise@level、Fall@level、Width@level パラメータが含まれています。 ソフトウェア パッケージの新しい機能には、正確なパルス測定のためのユーザー定義可能なしきい値が含まれています。 EMC には以下が含まれます。

ライズ@レベル
  • 次のいずれかを使用するように測定計算を設定します。 ベースおよびトップ (絶対またはパーセント)
  • ピークピーク (パーセント)
  • 0V-Max (パーセント)

フォール@レベル
  • 次のいずれかを使用するように測定計算を設定します。 ベースおよびトップ (絶対またはパーセント)
  • ピーク-ピーク (パーセント
  • )
  • 0V-Min (パーセント)

幅@レベル
  • 次のいずれかを使用するように測定計算を設定します。 ベースおよびトップ (絶対またはパーセント)
  • ピークピーク (パーセント)
  • 0V-Max (パーセント)
  • 0V-Min (パーセント)

測定フィルタリング
  • フィルタを使用して、パラメータ結果で報告されるパルス数を制限します
  • 取得中の個々のパルスを測定するためのゲート測定パラメータ

19 のヒストグラム パラメータと最大 2 億のイベントで拡張されたヒストグラム

パラメータ演算
Time@level および dTime@level は、新しい Peak-Peak、0 - Max および 0 - Min パラメータ計算レベルで強化されました

HDO6000B 高分解能オシロスコープ


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WaveRunner 8000HD 8チャンネル 高分解能オシロスコープ

WaveRunner 8000HD


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