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テレダイン・レクロイのテクニカルライブラリのアプリケーションノートでは、最新の技術資料を検索、参照、および印刷できます。 検索機能を使用すると、カテゴリまたはキーワードで資料を探すことができます。

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アプリケーションノート

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SPARQ Network Analyzer によるミリオーム PDN 測定

このアプリケーション ノートでは、Teledyne LeCroy SPARQ ネットワーク アナライザを使用して超低インピーダンス測定を行う手法について説明します。 インピーダンスをミリオーム単位で測定する機能は、PCB 設計の多くの分野、特に配電ネットワーク (PDN) で重要です。 特定のテスト設定といくつかの簡単な代数を使用して、SPARQ を使用してインピーダンスを 10 ミリオームまで正確に測定できます。

SPARQ および Signal Integrity Studio のタイム ドメイン トレース プロパティの構成

SPARQ および Signal Integrity Studio ソフトウェア アプリケーションのバージョン 6.9.0.3 から、インピーダンス プロファイルと rho トレースを、時間単位ではなく X 軸の距離単位で表示できるようになりました。 さらに、距離ではなく時間を X 軸として使用する場合、ユーザーは、TDR 波形から直接測定する場合と同様に、時間座標が時間遅延または往復時間に対応するかどうかを選択できます。 このテクニカル ブリーフでは、新しい [Time Domain Trace Properties] ウィンドウの使用方法について説明します。

SPARQ タイム ドメイン ゲーティングの遅延と損失の決定

このオペレーティング ノートでは、LeCroy SPARQ シリーズ ネットワーク アナライザでフィクスチャや発射の影響を除去するために使用されるタイム ドメイン ゲーティング アルゴリズムへの遅延および損失入力を決定する方法について説明します。

一般的な S パラメータの問題を回避する

ポートの割り当て方法は、測定の解釈に大きく影響します。

S パラメータのインポート機能を使用して混合モードに変換する - SPARQ および SI Studio

SPARQ および Signal Integrity Studio ソフトウェア アプリケーションのバージョン 6.8.0.3 以降、ユーザーは Touchstone ファイルをインポートして、S パラメータを混合モードに変換したり、ポート番号を再割り当てしたりできます。 このアプリケーション ノートでは、これらの機能の使用方法について説明し、4 ポートと 12 ポートの Touchstone ファイルの例を示します。

測定値の保存および呼び出し機能の使用 - SPARQ および SI Studio

バージョン 6.8.0.3 以降の SPARQ ソフトウェアには、Teledyne LeCroy SPARQ シリーズ シグナル インテグリティ ネットワーク アナライザで取得した測定値を保存および呼び出すための新機能が含まれています。 これらの機能により、ユーザーは以前に取得した結果を簡単に再構築し、更新された S パラメータ結果を生成することができます。測定を再実行する必要はありません。

SPARQ - LeCroy SPARQ シグナル インテグリティ ネットワーク アナライザを使用した NEXT および FEXT クロストークの測定

Teledyne LeCroy SPARQ シグナル インテグリティ ネットワーク アナライザは、相互接続、バックプレーン、およびケーブル アセンブリのクロストークを迅速に特徴付けます。 近端クロストーク (NEXT) と遠端クロストーク (FEXT) の両方を、シングルエンドまたは差動ポートの割り当てを使用して測定できます。 8 ポートと 12 ポートの SPARQ (モデル番号 SPARQ-3008E と SPARQ-3012E) を使用すると、シグナル インテグリティ エンジニアは、VNA の数分の の価格で、マルチ差動レーン NEXT および FEXT 測定でクロストーク モデルを検証できます。

SPARQ - WinCal XEキャリブレーションを使用したLeCroy SPARQおよびCascade MicrotechプローブによるSパラメータ測定


この詳細なアプリケーション ノートでは、LeCroy SPARQ シリーズ シグナル インテグリティ ネットワーク アナライザと Cascade Microtech プローブを使用して高品質の S パラメータ測定を行う方法について説明します。 Cascade Microtech のソフトウェア パッケージ WinCal XE を使用して、SOLR、ハイブリッド SOLT-SOLR、LRRM-SOLR などのさまざまなキャリブレーション方法を使用してアナライザーをキャリブレーションしました。 このアプリケーション ノートでは、これらの校正方法を使用して得られた結果と、アナライザーをプローブおよび WinCal XE ソフトウェアと共に操作するために実行した手順を比較します。

SPARQ - タイム ドメイン ゲーティングを使用したギガプローブの埋め込み解除


LeCroy SPARQ ユーザーは、SPARQ ソフトウェアのタイム ドメイン ゲーティング機能を使用して、S パラメータ測定からプローブ、コネクタ、およびローンチをディエンベッドできます。 このアプリケーション ノートでは、DVT Solutions の DVT30-1mm ギガプローブを使用して測定を行う方法と、測定からプローブをディエンベッドする方法について説明します。

SPARQ - ユーザー向けの工場二次校正手順


手順には、 スクリプトのセット ダウンロード可能です。 このアプリケーション ノートでは、「工場第 2 層キャリブレーション」を実行する方法について説明します。 SPARQ の定期的な (例: 年次) 社内校正を実行したいユーザーは、この手順を使用して、自動内部校正の「上に」適用される「工場」校正ファイルを生成する必要があります。 工場での第 2 段階のキャリブレーションを使用すると、ユーザーは SPARQ の定期的なキャリブレーションを実行できます。これは、他のテスト機器で実行されることが多いがパフォーマンスのみを検証する典型的な「パフォーマンス検証手順」とは対照的に、真のキャリブレーションです。
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