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ホワイトペーパー

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Sパラメータの相反性、受動性、因果関係を強制するための高速で最適なアルゴリズム

直接測定または EM 波シミュレーションによって得られた散乱または S パラメータは、測定誤差または数値誤差により物理法則に違反する場合があります。 このような S パラメータをシミュレーションで使用すると、誤った結果や誤った結論につながります。 このホワイトペーパーでは、因果関係、受動性、相反性という S パラメータの つの特性に焦点を当てています。 つの条件のいずれかに違反しているかどうかを検出するためのテストが用意されています。 Sパラメータを因果的、受動的、相互的にするために、個別のアルゴリズムが提供されています。 提案されたアルゴリズムは、ソリューション空間で最高であることが証明されており、実装が簡単です。

DesignCon 2012 - 離散周波数 S パラメータと連続周波数応答の関係

sparameters に接続された離散周波数応答と暗黙の連続時間応答との関係を詳細に調べます。 これは、周波数ドメインと時間ドメインの両方で行われ、適切な洞察を開発し、リアルタイムドメイン応答、時間エイリアシング、因果関係、補間、および離散周波数データの再サンプリングに関する問題を調査します。 得られた洞察を使用して、サンプリングの十分性の条件と、これらの副作用を完全に払拭できない場合の不変の実際の条件の副作用を特定します。 このホワイト ペーパーは、スコープ内の仮想プロービング アプリケーションで使用されるものなど、線形シミュレーションでのパラメータの直接適用に関連する問題を理解するのに特に役立ちます。

インパルス応答時間制限付き LeCroy SPARQ S パラメータ測定

SPARQ ソフトウェアには、S パラメータ計算プロセスの一部としてインパルス応答時間を制限する機能が含まれています。 インパルス応答時間を制限すると、SPARQ によって返される S パラメータからノイズが除去されるという主な利点があります。 インパルス応答を制限すると、SPARQ によって測定された S パラメータはより滑らかになり、VNA の結果によりよく一致します。

総損失: 回路基板を認定する方法

高速電子設計用の回路基板材料を指定および認定する際に、信号損失測定 (別名、総損失) が果たす役割を明確にします。 次に、特に従来の PCB 材料で製造されたテスト ラインの特性を評価することにより、NIST マルチライン測定技術を実証します。 この論文では、この手法について説明および実証し、TDR ベースのシステムを使用している場合でも、信号伝搬損失を周波数の関数として正確に報告する方法を示しています。 この論文はまた、インピーダンスのミスマッチと微分遅延の変動が、今日実際に行われているさまざまなテスト方法で報告される損失にどのように影響するかを明らかにしています。

TDR ダイナミック レンジ改善のためのウェーブレット ノイズ除去

タイム・ドメイン・リフレクトメトリ(TDR)波形に存在する大量のノイズを除去して、TDR 波形のダイナミック・レンジと TDR ベースの S パラメータ測定を拡大する手法を紹介します。

LeCroy SPARQ の S パラメータ測定方法

SPARQ シグナル インテグリティ ネットワーク アナライザは、TDR と TDT を使用して、ネットワークの電気的動作を特徴付けます。 S パラメータを測定するプロセスには、3) OSLT 校正、1) DUT 測定、2) S パラメータ計算の 3 つのフェーズがあります。 「E」モデルの SPARQ を使用すると、ボタンを 回押すだけで、すべてのフェーズが自動的に実行され、ユーザーの介入はまったく必要ありません。 これは、信号を内部接続された校正標準とフロント パネル ポートにルーティングする内部スイッチ マトリックス アセンブリを使用することによって実現されます。 「M」モデルは、ユーザーの外部 OSLT キャリブレーション キットでキャリブレーションされます。

SPARQ ダイナミックレンジ

このホワイト ペーパーでは、SPARQ シグナル インテグリティ ネットワーク アナライザのダイナミック レンジについて説明し、いくつかの主要な仕様の影響について考察します。 さらに、競合する つの時間領域計測器のダイナミック レンジと主要な仕様を比較し、計算を裏付ける導出と実験結果を提供します。