WavePulser-シグナル・インテグリティ (SI) スタジオ

• Sパラメータ DC〜40 GHz、シングルエンドおよびミックスドモード
• インピーダンスプロファイル 分解能 < 1 mm、差動およびコモンモード
• 内部自動OSLT校正
• USB接続、小型軽量
• 柔軟な測定結果表示
• フィクスチャ、コネクタ、ケーブルの影響を除去
• CTLE、DFE、FFEイコライゼーションを使用してアイパターンをエミュレート
• 高度なジッタ解析

DC〜40 GHzの周波数範囲で、シングルエンドおよびミックスドモードSパラメータ測定をサポートし、周波数特性の完全な評価が可能です。 内蔵自動校正機能は簡単かつ迅速です。WavePulser-40iX-BUNDLEに付属のOLST校正キットを使用すれば、必要に応じて測定基準面を移動できます。

空間分解能 < 1 mmで、差動インピーダンスプロファイルとコモンモードインピーダンスプロファイルの両方をサポートし、異常箇所を正確に特定します。 TDRとTDTの両機能が搭載されており、反射特性と伝達特性の両方を測定する事ができます。

WavePulser 40iXの測定データを使って、標準搭載の高機能ツールボックスを利用すれば、ディエンベッド、タイムゲーティング、シミュレーションをすぐに実行できます。 内蔵のアイパターン表示機能により、イコライザ・エミュレーションも可能です。 高度なジッタ解析機能により、トータル（Tj）、ランダム（Rj）、およびデタミニスティック（Dj）ジッタを測定でき、さらにDjを分解できます。得られた値をそれらをジッタビューを使って表示できます。

WavePulserの標準モデルにはCALキットが組み込まれており、校正は自動化されておりシンプルかつ高速です。DUTに１回接続してGoボタンを押すだけです。WavePulserは、追加で外部校正キットを購入する必要はありません。さらに、WavePulserのTDR/TDTベースのアプローチはセットアップに依存しないため、校正が必要となる頻度は多くありません。

WavePulserの測定結果にはDC測定ポイントが含まれ、40 GHzの帯域まで伸びています。TDRステップ応答、タイムゲート、エミュレートされた物理層信号応答は、VNAとは異なり低周波およびDCポイントを外挿する必要がなくなり、インターコネクトシステムの解析に理想的です。