精密校正された真の差動TDR
精度とスピードを重視して設計された T3SP15D, T3SP15D XR、そして T3SP01Dは、プリント基板やケーブルの信号完全性測定方法を根本から変革します。校正済みの差動TDRにより、シングルエンドと差動の両方で、超高速かつ高解像度の特性インピーダンスプロファイル分析を実現します。軽量・コンパクトで、オプションでバッテリー駆動も可能なこれらの機器は、ラボ、品質管理、製造現場、フィールドなど、あらゆる環境にシームレスに導入できます。
主な特徴
- 真の差動および校正済みTDR インピーダンス測定精度を最大限に高めるために
- コンパクトでバッテリー駆動設計、真の携帯性を実現
- 標準立ち上がり時間 30 ps、S パラメータサポート最大 15 GHz （15Dおよび15D-XRモデル）
- 標準立ち上がり時間260ps、Sパラメータは最大1.25GHzまで対応（01Dモデル）
- 最大30m（15D）、50m（15D-XR）、1km（01D）のDUT長をサポートする50,000ポイントのメモリ
- 自動抵抗損失補償 精度向上のため
- 組み込みのスキュー分析 （ペア間およびペア内）差動信号完全性
- XRシリーズ：スピードを追求した設計連続ケーブル生産向けに最適化
- 01D モデル: 高ダイナミックレンジに対応するように設計され、10Base-T1、100Base-T1、およびMIL規格RFケーブルに最適化されています。
真の差動TDR
最新の高速設計のほとんどは、差動伝送線路を用いて実装されています。真の差動TDRを使用することで、このような設計における信号完全性測定のセットアップが簡素化されます。シールドなしツイストペアケーブルを測定する場合、接地接続が困難であったり、アクセスできなかったりする場合があります。真の差動TDRを使用して測定を行う場合、ほとんどの場合、接地接続は不要であり、接地接続なしでTDRプローブを使用できる柔軟性が得られます。
TDRの繰り返し周波数（モデル別）：10MHz～40kHz
繰り返し周波数が最大10MHzの T3SP15D (NAIST) と T3SP15D XRは、サンプリングオシロスコープに基づく従来のTDR機器よりも300倍以上高速です。繰り返し周波数は40kHzと低く、ダイナミックレンジも広いため、 T3SP01Dは、最大1kmのケーブル長にわたる測定を可能にするだけでなく、低速の車載イーサネットリンク向けに非常に高速なモード変換特性評価も実現します。
ケーブルメーカー向けT3SP15-XRモデル
その T3SP15D-XRは、サンプリングオシロスコーププラットフォームに基づく旧式のTDRを使用するよりも優れた生産代替手段を提供するために作成されました。4つの新しいタイムベースが追加されました。 T3SP15DXRは、2つの成果を達成しました。1つ目は、測定対象ケーブルを最大50mまで拡張したこと、2つ目は、生産において重要な要件である非常に高速なデータ取得が可能になったことです。より長いケーブルに適した500kHzの繰り返し周波数と、超高速データ取得に適した20psおよび40psのサンプリングレートを追加しました。
T3S高ダイナミックレンジ用P01Dモデル
その T3SP01Dは、最大1キロメートルのケーブルを測定するために、400kHzから50kHzまで選択可能なパルス繰り返し周波数を備えています。各チャンネルは、高速な260ピコ秒の立ち上がり時間を持つ強力な360ミリボルトのステップを出力し、車載イーサネットおよび最大100メガビット/秒のシングルペアイーサネットの優れたモード変換分析を提供します。10Base-T1Sおよび100Base-T1車載イーサネット準拠の場合、 T3SP01Dは、超高速かつ高感度なMDIリターンロスおよびモード変換測定を実現します。
完全に校正されたインピーダンスプロット
すべてのTDR機器の基準インピーダンスは相対的なものであり、反射振幅を入射振幅と比較することによって算出されます。完全なOSLT校正を使用すると、 T3SPシリーズは、時間領域と周波数領域におけるインピーダンス測定において最高の精度を提供します。4つの校正標準（オープン、ショート、ロード、スルー）を使用して、 T3SP15D TDR機器で一般的に用いられる単純な正規化ではなく、時間領域でOSLTキャリブレーションを行うことで、セットアップにおける誤差補正が大幅に改善されます。時間領域でOSLTキャリブレーションを行うことで、TDR入射ステップ後に発生するリンギングなど、インピーダンスプロットの不規則性を回避できます。
フル校正されたSパラメータ
EthernetやUSBなどの多くの最新規格では、周波数領域におけるケーブルとコネクタのインピーダンス整合を測定する必要があります。これらは、従来型のVNA機器で一般的に行われる測定です。
T3SPシリーズは、最大15GHzまでの完全校正済み差動Sパラメータ測定を提供します（T3SP15DVNAで使用されるのと同じOSLT校正標準を使用します。
信頼はするが、検証も必要だ。ケーブルは嘘をついているかもしれない。
高級ケーブルであっても、測定誤差の原因となる欠陥を隠してしまうことがある。
T3SPシリーズはケーブルの品質を瞬時に明らかにし、損傷や欠陥によって規格外となった箇所を特定します。SPシリーズは最大50,000ポイントの取得が可能で、高解像度の長時間TDR測定を実現し、長距離の被測定デバイス（DUT）に最適です。10MHzから1MHzまでの柔軟な繰り返し周波数により、最大30メートルのケーブル長に対応し、XRモデルではこの範囲を50メートルまで拡張し、周波数は500kHzまで下げることができます。
ESD保護
高周波測定機器は静電気放電（ESD）に非常に敏感で、測定機器に永久的な損傷を与える可能性があります。さらに、多くの研究所では、ESDによる損傷から電子機器を保護するために特別な対策を講じる必要があります。SPシリーズは、このような事態に対する保護レベルを高めることで、このリスクを軽減します。SPシリーズのすべてのモデルには、高性能同軸RFスイッチをベースとしたESD保護モジュールが搭載されています。このモジュールは、測定に使用されていないときに、RF信号検出器を入力コネクタから分離することで、RF入力回路を保護します。
Sパラメータ測定
現代の電子機器設計や将来のシリアルデータ規格で使用される高ビットレートは、マイクロ波領域まで広がっています。例えば、高速ユニバーサルシリアルバス（USB3.1）は、ツイストペアケーブルを介して最大10 GB/sの転送速度をサポートしています。コネクタやケーブルを介したこのような高ビットレート伝送は、チャネル分散のためにかなりの歪みを引き起こします。歪みを管理可能なレベルに抑えるために、多くの規格ではケーブルとコネクタのインピーダンス、反射損失、挿入損失を規定しています。これらの測定値はSパラメータで表されます。 T3SPシリーズは、最大15GHzまでの完全校正済み差動Sパラメータ測定を提供します（T3SP15Dこれにより、出力ファイルをさまざまな形式（CSV、Matlab、Touchstone）で保存できる柔軟性が得られ、SI-Studio、Matlab、その他のシミュレーション プログラムなどのツールで簡単に使用できます。
PCB上のインピーダンストレース
高速デジタルシステムのクロックレートの上昇に伴い、インピーダンス制御プリント基板（PCB）の必要性が急速に高まっています。さらに、ケーブルとコネクタは高周波設計仕様とインピーダンス制御仕様を満たす必要があります。 T3SPシリーズは、PCB、ケーブル、コネクタの波インピーダンスを非常に正確かつ快適に測定するのに役立ちます。市場に出回っている他のシステムとは異なり、 T3SPシリーズは、プリント基板上の特定の配線を測定するために設計されており、オンボードテストにおいて、TDRプローブは、組み立て済みのプリント基板の品質テストやデバッグのための正確な測定を保証します。
資料
時間領域反射率計（TDR）
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このウェビナーでは、エリック・ボガティン博士が、均一な伝送線路ではない相互接続を解析する方法を解説します。不連続性を特徴付けるとはどういうことでしょうか？博士は、誰でも無料で利用できるオープンソースのシミュレーションツールを使って実行できる、刺激的で楽しい「相互接続のハッキング」という手法を紹介します。
その他のアクセサリ
| 詳細説明 | ||
|---|---|---|
| T3SPボード |
デモおよび検証ボード |
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| T3SPケース |
保管・旅行用ケース（TDR本体および付属品用のアルミ製スーツケース。すべてのバンドル構成に付属） |
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| T3SP-Dプローブ |
差動TDRプローブ（高精度、18GHz、0.5～5.0mm可変ピッチ） |
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| T3SP-Dプローブ-F |
差動TDRプローブ（5GHz、2.5mmまたは5mm固定ピッチ） |
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| T3SP-SEP |
シングルエンドTDRプローブ（高精度、1.0/1.27/1.65/2.0/2.5 mm可変ピッチ） |
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| T3SP-SEプローブ-F |
シングルエンドTDRプローブ（工業用、2.54mm固定ピッチ） |