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50,000カウント表示
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3.5 インチ (320x240) TFTLCD ディスプレイ
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0.05%の高精度
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1Ampのテスト電流、0.1μΩの分解能
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毎秒60回の高速測定
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4線式抵抗測定
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温度補正測定機能
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遅延測定
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20セットのパネル設定メモリ
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乾式回路試験 (T3MIL50X のみ)
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ドライブ モード: T3MIL50X: DC+/DC-、パルス、PWM、ゼロ、スタンバイ T3MIL50: DC+、スタンバイ
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インターフェース：USBデバイス、RS-232C、ハンドラ/スキャン/EXT I/O
多彩なドライブモード（T3MIL50Xのみ）
T3MIL50X は、さまざまな材料の測定アプリケーション向けに、ドライ回路とさまざまな駆動モード (DC+、DC-、パルス、PWM) を提供します。 パルス電流出力モードは、測定に対する熱 EMF の影響を低減するために、異なる材料の導体を相互作用させるのに適しています。 熱起電力は、低抵抗測定の実行中に異なる温度に作用する異なる導体から生成される電位差によって引き起こされます。 DC+ および DC- 出力モードは、誘導成分の測定に最適です。 PWM 出力モードは、温度に敏感な材料の測定に適しており、測定電流が長時間印加されることによる抵抗の変動を回避します。 乾式回路試験は、嵌合接触面の汚染物質や酸化物を検出するために使用されます。 通常、ドライ回路テストは、コネクタの接触面に汚染または金属酸化物を生成することを目的とした環境ストレス テストと組み合わせて実行されます。 テスト中に接点に過剰な電流が流れると、接点領域に微視的なレベルで物理的な変化が生じる可能性があります。 電流によって熱が発生し、接触点とその周辺領域が軟化または溶融する可能性があります。 接触面積が大きくなり、抵抗値が下がります。 汚染物質の「拭き取り」を避けるために、テストには乾式回路法が使用されます。 乾式回路とは、電圧と電流が接点接合部の物理的および電気的状態に変化を生じさせないレベルに制限されている回路です。 一般的に開放電圧は20mV以下、短絡電流は100mA以下です。 ドライ回路測定は、DC+、DC-、およびパルス モードでも実行できます。