Gen-Z

Gen-Z は、直接接続、スイッチ、またはファブリックトポロジを介して、データおよびデバイスへの高速、低遅延、メモリセマンティックアクセスを提供するように設計されたデータアクセステクノロジです。 Gen-Z コンポーネントは、低遅延の読み取りおよび書き込み操作を使用してデータに直接アクセスし、さまざまな高度な操作を使用して、アプリケーションやプロセッサーの関与を最小限に抑えてデータを移動します。 Gen-Z ファブリックは、メモリセマンティック通信を利用して、最小限のオーバーヘッドで異なるコンポーネント上のメモリ間でデータを移動します。メモリセマンティック通信は非常に効率的かつシンプルであり、最適なパフォーマンスと消費電力を実現するために重要です。 Teledyne LeCroy は、Z 世代ベースのデバイスの開発とデバッグをサポートするプロトコル分析およびエラー挿入テスト機器を提供します

Z 世代を探索する

SummitM5xプロトコルアナライザ / Jammer Summit M5xは、テレダイン・レクロイのPCIe / NVMe Jammerソリューションであり、ワークステーション、デスクトップ、グラフィックス、ストレージ、ネットワークカードアプリケーションなどの高速PCI Express 5.0 I / Oベースのアプリケーションを対象とした最新のプロトコルアナライザです。

PXP-400A テストプラットフォーム テレダイン・レクロイ PXP-400Aテストプラットフォームは、自己完結型のポータブルでパワードパッシブバックプレーンを備えたPCIe4.0アドインカードをテストするための便利な手段を提供します。 PXP-400Aは、テスト対象の両方のカードに必要な電力を供給し、プロトコルアナライザへの接続にインターポーザを使用できます。

PXP-500A テストプラットフォーム テレダイン・レクロイ PXP-500Aテストプラットフォームは、自己完結型のポータブルでパワードパッシブバックプレーンを備えたPCIe5.0アドインカードをテストするための便利な手段を提供します。 PXP-500Aは、テスト対象の両方のカードに必要な電力を供給し、プロトコルアナライザへの接続に個別のインターポーザを使用できます。