ベクトル ネットワーク アナライザ (VNA) +TDR 機能

WavePulser 40iX 高速インターコネクト アナライザは、 1回の捕捉で周波数領域と時間領域の両方に対して比類のない特性評価の洞察を提供します。

  • Sパラメータ測定(VNA)
  • インピーダンス プロファイル測定 (TDR)
  • 測定結果のディエンベッド、シミュレーション、エミュレーション、およびタイム ゲーティング
  • 内蔵CALキットによる自動校正
  • VNA 価格の数分の1
 
WavePulser 40iX 回路基板上でベクトル・ネットワーク・アナライザ (VNA) の S パラメータ測定 (リターン・ロスや挿入損失測定など) を実行する高速インターコネクト・アナライザ

比類なき詳細特性評価

混合モードとリターンおよび挿入損失の S パラメータの代表的なプロット

Sパラメータ測定

1回の捕捉で信号パスの完全な特性を取得

  • 周波数範囲 DC ~ 40 GHz
  • シングルエンドおよびミックスド・モードの S パラメータ
  • リターンロス、挿入損失の測定
  • 内蔵自動校正機能により時間と手間を節約
時間領域透過率 (TDT) を測定するために時間領域反射率計 (TDR) を使用して生成されたインピーダンス プロファイルの代表的なプロット

インピーダンスプロファイル測定

回路内の障害を正確に特定

  • インピーダンスプロファイルの空間分解能 < 1 mm
  • 差動およびコモンモード インピーダンス プロファイル
  • TDR および TDT 機能
を説明する図像 WavePulser 40iX S パラメータを使用してディエンベディングを実行し、ジッタとアイ ダイアグラムを測定する高速インターコネクト アナライザの機能

ディエンベッド、シミュレーション、エミュレーション、その他の豊富な機能

WavePulser 40iX ソフトウェアは、高機能ツールボックスを使用して、インターコネクトと回路の解析およびモデリングを容易に行うことが可能

  • ディエンベットとタイムゲーティング
  • イコライズされたエミュレーションによるアイパターン
  • 高度なジッタ解析

動画

 
 
 
 
 
 

高速インターコネクト解析用に設計されています

WavePulser 40iX は、シリアルデータ ケーブル、チャネル、コネクタ、ビア、バックプレーン、プリント基板、チップおよび SoC パッケージの相互接続性の問題を検証、デバッグ、およびトラブルシューティングします。 セットアップと使用は簡単です。 わずかなご予算で、ネットワーク アナライザと同じ結果が得られます。

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内部自動校正機能

WavePulser 40iX は、校正キットが内部に組み込まれているため、校正は常に自動で、シンプルかつ迅速に行われます。 追加の外部校正キットを購入し、校正のために手動で接続する必要があるベクトル ネットワークアナライザに比べて非常に簡便です。 TDR/TDT ベースのアプローチは機器設定からも独立しているため、校正の頻度が低くなります。

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DC〜40 GHz の全範囲をカバー

WavePulser 40iX は、DC および低周波への外挿を必要とせずに、TDRステップ応答と時間ゲートおよび/またはエミュレートされた物理層応答を提供します。これは高速シリアルデータ・インターコネクトの解析に最適です。

ミックスド・モード S パラメータ測定

1回の捕捉で、すべての測定結果が表示されます;すべてのポートのミックスド・モードのリターン損失と挿入損失; 差動モードおよびコモンモード測定;DC周波数応答。表形式のGUIで結果をわかりやすく読み取ることができます。

シンプルで柔軟なネットワーク解析設定

シングルエンド測定の場合は、周波数とポート数のみを入力するだけのシンプルなセットアップです。 その後精度または速度、あるいはその中間に最適化されたテスト時間を選択します。 DUTに再接続することなく、ソフトウェアでポートの再定義が可能です。これによりTouchstoneファイル内のSパラメータの並べ替えをすることが出来ます。

内部校正による高精度測定

内蔵の校正機能により、測定をより早く開始し、より自信を持って行うことができます。 Passivity、Reciprocity、Causalityなどの機能により、より高い S パラメータ測定精度が保証されます。

複数のインピーダンス プロファイル ビュー

WavePulser 40iX は、差動モード インピーダンスプロファイルとミックスド・モード測定の両方をサポートし、複数のモードを同時に表示できます。 ステップ応答、パルス応答、反射係数も表示可能です。

障害を正確に特定

インピーダンス プロファイルを使用して、高速シリアルデータ・インターコネクトにおける一般的な問題;コネクタの不適切な締め付け;ケーブルの損傷;不適切なケーブル曲げ半径;伝送ライン上の欠陥のあるビア;その他の伝送路の異常を特定します。

効率を最適化する

インピーダンスプロファイルは、DUT上だけでなく測定セットアップ内の障害を検出して特定するため、作業の効率化に役立ちます。 キャリブレーションを繰り返す必要がある場合とそうでない場合を想像してみてください。

タイムゲーティングとディエンベット

測定結果からケーブルとコネクタの影響を排除します。 ポート拡張またはインピーダンス・ピーリング・アルゴリズムを介してゲーティングを設定し、ゲーティング領域の有無にかかわらず S パラメータを保存します。 モデル・シミュレーションまたは実測された S パラメータを使用して、シリアルデータ・チャネルをディエンベットします。

高速アイパターン表示

波形をインポートまたはシミュレートし、S パラメータを使用して障害をモデル化します。 直観的なシリアルデータのアイパターンを使用して、障害の影響をすばやく表示します。 ディエンベットとイコライザの効果をアイパターンで確認します。 PLL、プリエンファシス、デエンファシス、CTLE、FFE、DFE をサポートします。

高度なジッタ解析

トータル(Tj)、ランダム(Rj)、デタミニスティック(Dj)ジッタを計測します。 Djを構成成分ごとに分離します。 スペクトル、ヒストグラム、ジッタトラック、アイパターン、その他のプロットでジッタを表示します。

技術資料

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