WaveMaster 8Zi-Bオシロスコープ - テレダイン・レクロイ

広帯域かつ、
唯一の多機能モデル

WaveMaster 8 Zi-Bオシロスコープは、シリアルデータリンクの解析とDDRテストに必要な周波数帯域幅とツールを備え、多種多様なテストに使用可能な性能を持ち合わせた唯一のモデルです。

データシートオンライン見積

テレダイン・レクロイ WaveMaster 8 つのアイダイアグラムとシリアルデータジッタデコンボリューションを示す 50 オームと 1 メグオームの両方の入力を備えた XNUMX Zi-B オシロスコープ。

テレダイン・レクロイ WaveMaster 最大の機能を備えた 8 Zi-B オシロスコープ - 50 オームと 1 メグオームの両方の入力、幅広いプローブのサポート、混合信号の取得、低速シリアルトリガとデコード。

ほぼすべての機能を提供

幅広いプローブをサポートするために50Ωと1MΩ入力の両方を標準装備
ミックスドシグナル捕捉機能
包括的なシリアルトリガとデコード

高速シリアルデータテストツールの象徴的な表現-QualiPHYコンプライアンステストの自動化、DDR、およびシリアルデータテスト。

シリアルデータとDDR解析に最適

シンプルで強力な自動コンプライアンステスト
インタラクティブなDDRデバッグツールキット
最も完全なアイパターン、ジッタおよびノイズ解析

Teledyne LeCroy 向けのエンドツーエンドのリンクシグナルインテグリティ解析 WaveMaster 8台のZi-Bオシロスコープを使用 WavePulser 40iX その他のツール。

リンク全体を解析

WavePulser40iXからSパラメータファイルをインポート
フィクスチャのディエンベッドとチャンネルエミュレーション
トランスミッタとレシーバのイコライザをシミュレート

ほぼすべての機能を提供

WaveMaster 8 Zi-Bオシロスコープの広帯域性能（最大16 GHz）と汎用機能の組み合わせにより、最も包括的な検証およびデバッグ能力を提供します。

テレダイン・レクロイ WaveMaster パッシブプローブ、電流プローブ、アクティブ FET プローブ、高帯域幅差動プローブを備えた 8 Zi-B オシロスコープテスト回路ボード。

50 Ω と 1 MΩ入力により最も幅広いプローブをサポート

WaveMasterは、1 MΩ入力を提供する唯一の広帯域オシロスコープです。これにより、パッシブプローブの直接接続が可能になり、高価な外付けアダプタを使用せずに、さまざまな低電圧、高電圧、および電流プローブをサポートします。

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低速および高速ミックスドシグナル捕捉

最大36チャネル、500 MHzデジタルクロックレートの低速デジタル信号捕捉、または最大18チャネル、6 Gb/sデジタルクロックレートの高速デジタル信号捕捉のミックスド・シグナルオプションを使用すれば、捕捉可能な信号範囲が広がります。

MS500-36 について詳しく見る

HDA125 について詳しく見る

包括的なシリアルデータトリガ/デコード

包括的な低速シリアルデータトリガとデコードに加えて、測定/グラフとアイパターン・テストにより、低速イベントとの因果関係解析が提供されます。低速シリアルの相互作用を高速シリアルデータまたはその他のイベントと簡単に関連付けることができます。

シリアルデータとDDR解析に最適

この WaveMaster 8 Zi-B は、高速シリアルデータおよびメモリのコンプライアンスとデバッグに最適なオシロスコーププラットフォームです。

テレダイン・レクロイ WaveMaster HDA8 高速デジタルアナライザと DH シリーズ 125 ～ 8 GHz 差動プローブを使用して、マザーボード上でシリアルデータおよび DDR テストを実行する 30 Zi-B オシロスコープ。

Teledyne LeCroyQualiPHY自動コンプライアンステストのメインダイアログ。

QualiPHY自動コンプライアンステスト

PCIExpressのサポート^®、USB、HDMI™、DisplayPort™、イーサネット、車載イーサネット、DDR、およびその他の多くのシリアルデータ規格に対応
完全に自動化されたトランスミッタ、レシーバテスト、レシーバテスト校正
ステップバイステップの操作手順説明と自動レポート生成
合否テストレポートを自動生成

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SDA Expert シリアルデータ分析 NRZ アイダイアグラム、ジッターヒストグラム、ジッタートラック、ジッター FFT、およびランダム、決定論的およびトータルジッター測定

シリアルデータ規格ごとの専用解析ツールを使いやすく統合

PCI Express、USB、DisplayPort などに合わせたテクノロジー分析
最も完全なシリアルデータ分析ツールボックス
複雑な計測でも最高の信頼性

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DDR イメージ

DDR ターンオンからコンプライアンステストまでの最速の行程

最初の電源投入から検証までの DDR 製品開発を最大効率化
DDR プリコンプライアンステストと詳細調整を加速
包括的な DDR コンプライアンステスト

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リンク全体を解析

組み合わせる WavePulser 40iX 高速インターコネクトアナライザー、 WaveMaster 8 Zi-B オシロスコープと SDA Expert オプションにより、利用可能な最も完全なシグナルインテグリティ解析ツールキットが提供されます。

テレダイン・レクロイ WaveMaster 8 Zi-B オシロスコープを使用 WavePulser 40iX シリアルデータリンク解析用の高速インターコネクトアナライザー。

を使用した TP1 から TP2 へのフィクスチャとテストケーブルの埋め込み解除 WavePulser 40iX Sパラメータと WaveMaster 8 Zi-B ツールセット。

フィクスチャ・ディエンベッドとケーブルテスト

Sパラメータのインポート機能 WavePulser 40iX または他のツールからSパラメータをインポート可能
　 Eye Doctor とバーチャルプローブを使うと、フィクスチャやケーブルの影響を簡単かつ正確に取り除く事が可能
完全な SDA エキスパートツールキットでディエンベッドされた波形でアイパターン、ジッタ、ノイズ解析が可能。その波形はDUTの出力ピンで測定した波形と同等

を使用した TP2 から TP3 への実際のチャネル損失のエミュレーション WavePulser 40iX Sパラメータと WaveMaster 8 Zi-B ツールセット。

実際のチャネル損失をエミュレート

WavePulser 40iX によりテストチャンネル損失プロファイルを迅速、簡単、正確に測定
信号パスの任意のポイントで波形を捕捉し、チャンネル効果をエンベッド
複数のテストポイントで同時にアイパターン、ジッタ、ノイズの計測値を同時に比較

TP1 でプロービングし、TP3 でエミュレートすることによる送信機と受信機のイコライゼーションのエミュレーション WavePulser 40iX Sパラメータと WaveMaster 8 Zi-B ツールセット。

TxおよびRxイコライザをエミュレート

SDA エキスパートとEye Doctorを使用すると、以下のすべての一般的なイコライザのエミュレーションが可能：
— トランスミッタエンファシス
— レシーバFFE
— レシーバCTLE
— レシーバDFE

レイヤーを越えた PCIe テスト

Teledyne LeCroy の PCI Express 電気テストソリューションは、優れた機器と洗練された分析ソフトウェアを組み合わせています。

簡素化された PCIe リンクテスト
PCIe テストに最も信頼できる
SDA Expert を使用した組み込みの PCIe 専門知識

詳細

テレダイン・レクロイ WaveMaster 8 Zi-B オシロスコープと Anritsu MP1900A BERT と PCI Express アドインカードがプリント基板に取り付けられています。

テレダイン・レクロイ WaveMaster 8 Zi-B オシロスコープと WavePulser 40iX Anritsu MP1900A BERT およびさまざまな USB テストフィクスチャを使用します。

USB および USB-C 電気テストのリーダーシップ – PHY からプロトコルまで

完全な PHY および PHY ロジック層オシロスコープソリューション USB 3.2、USB 2.0、USB Power Delivery、USB Type-C全体に対応^®.

USB-C テストに最適なオシロスコープ
信号の測定と特性評価のためのUSB-C テスト専門知識を内蔵
クロスレイヤー分析による USB-C リンクテストの簡素化

詳細

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